陶瓷粉末激光粒度分布仪厂家电话，陶瓷粉末激光粒度仪特点

陶瓷微粉是一种轻质非金属多功能材料，主要成分是SiO2和Al2O3，分散性好、遮盖力高、白度高、悬浮性好、化学稳定性好、可塑性好、耐热温度高、密度小、烧失量低、光散射性好、绝缘性好。特别适合于高光半光性涂料及其它容剂，可替代钛白粉用量，消除因使用钛白粉造成的光絮凝现象，防止涂料泛黄，并可降低企业生产成本。陶瓷微粉被誉为“空间时代新材料”。陶瓷粉末激光粒度分布仪是一款专门用于检测陶瓷微粉的精密仪器。更多陶瓷粉末激光粒度仪详情欢迎致电厦门易仕特仪器有限公司黄工：17750585159。

陶瓷粉末激光粒度分布仪简介

LAP-DW2000是我公司倾力研发的最新产品，自上市以来赢得了广大客户的一致好评，LAP-DW2000采用国际最先进的Mie氏散射原理和汇聚光傅立叶变换光路。高密度探头及全量程无缝衔接测试方法，保证了测试结果的准确性和重复性。独特的湿法循环分散系统，保证颗粒保证测试过程中无颗粒沉积现象，测试完毕后无废液积存设计，保证了下一次测试精度，使测试结果更真实可靠；干法分散采用力了直线喷射分散设计，样品经过高压气体分散后垂直向后方飞行，避免了待测小颗粒的二次团簇，同时采取了管道无残留设计，保证了测试不同样品的准确性。优越的光路自动校对系统、干湿一键切换系统、干法电脑远端控制喂料系统等精心设计彰显出DW2000独特优势。

陶瓷粉末激光粒度分布仪适用范围

LAP-DW2000广泛应用于水泥、陶瓷、药品、乳液、涂料、染料、颜料、填料、化工产品、催化剂、钻井泥浆、磨料、润滑剂、泥砂、粉尘、细胞、细菌、食品、添加剂、石墨、感光材料、燃料、墨汁、金属与非金属粉末、碳酸钙、高岭土、水煤浆、铝银浆及其他粉状物料粒度的测量。

陶瓷粉末激光粒度分布仪激光粒度仪主要性能特点

先进的光路设计：LAP-DW2000采用会聚光傅立叶变换测试技术，保证在最短的焦距获得最大量程，有效提高仪器的分辨能力；独特的高密度探测单元，让DW2000拥有了超强的小颗粒测试能力，高密度探测单元的使用让DW2000具有超强的全量程无缝测试能力。

干、湿一键切换：干湿切换将由仪器自动完成，全部过程10S内完成。

主探测器Z向自动移动：干湿切换后因光学玻璃的介入会导致会聚光焦距变化，LAP-DW2000会根据干、湿法的不同自动调整主探测器，使主探测器始终在焦平面上（实现光路三维自动校对）。

防尘、防震设计：仪器整体进行了密封设计，大幅提高了内部元器件使用寿命。独特的悬浮式结构能有效避免外界震动对仪器的干扰，使测试结果更稳定可靠。

强防腐设计（选配）：根据客户实际需求可以配备耐酸、耐碱、耐油（含一切溶剂油）。

进口氦-氖激光器：LAP-DW2000采用了高稳定、长寿命的进口氦-氖激光器，优良的单色性及稳定性让DW2000拥有了超强的测试重复性（标配为国产）。

光路自动校对：自动对焦系统，仪器可自动校对光路。

独特微量循环系统：整个分散循环系统进行了优化设计，分散介质大于150毫升即可循环测试，真正达到了微量循环测试；优化的设计保证排水后无废液残留，保证了下一次测试结果的准确性。

超宽量程：LAP-DW2000量程达到了0.1μm～2000μm。

免排气泡设计：全新的设计使整个测试过程不会有气泡进入测试样品窗，避免了气泡干扰。

样品无残留设计：仪器管道及排水结构进行了优化设计，仪器管道、循环泵内无积液残留，避免对下一次测试数据的影响；干法测试同样进行了无残留设计。

干法计算机远程控制喂料：LAP-DW2000干法测试时测试人员可通过电脑远端控制喂料速度，大大减少了测试人员的劳动强度。

样品窗快换装置：全新设计的样品窗快换装置，使样品窗更换更方便快捷。

陶瓷粉末激光粒度分布仪主要技术参数

规格型号：LAP-DW2000（高配）

执行标准：ISO   13320-1:1999；GB/T19077.1-2008

测试范围：干法0.1μm -2000μm

探测器通道数：86

准确性误差：<±1%（国家标准样品D50值）

重复性误差：<0.5%（国家标准样品D50值）

免排气泡：具备免排气泡设计，无气泡干扰数据更准确

误操作保护：仪器具备误操作自我保护功能，仪器对误操作不响应

激光器参数：进口光纤输出大功率激光器 λ= 650nm,  p>10mW

测试速度：干法＜1分钟/次：湿法＜1分钟/次（不含样品分散时间）

操作模式：电脑操作、干湿一键自动切换

测试速度：<1min/次（不含样品分散时间）

体积：1170mm*460mm*470mm

重量：35Kg

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